Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation
Compl. Titre  (Actes du congrès), Paris, Conservatoire des Arts et Métiers, 31 janvier-1er février 2001
Auteurs   Lepoutre, François (Auteur)
Placko, Dominique (Editeur Intel.)
Surrel, Yves (Editeur Intel.)
Collation   1 vol. (595 p.)
Illustration   Ill.
Format   24 cm
ISBN   2-7462-0209-3
Langue d'édition   français
Sujets   Microtechniques -- congrès
Mesure -- Instruments -- Congrès
Mesures physiques -- instruments -- congrès
Nombre de réservation(s) actuelle(s) : 0
Réservation
SiteNuméroCoteSection / LocalisationEtat
Bibliotheque 1012450000010 530.7 SYS Adulte / ISMEP ParisDisponible
Notes : Bibliogr. à la fin de chaque article