Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation
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| Compl. Titre | (Actes du congrès), Paris, Conservatoire des Arts et Métiers, 31 janvier-1er février 2001 |
| Auteur | Lepoutre, François (Auteur) |
| Placko, Dominique (Editeur Intel.) | |
| Surrel, Yves (Editeur Intel.) | |
| Collation | 1 vol. (595 p.) |
| Format | 24 cm |
| Illustration | Ill. |
| ISBN | 2-7462-0209-3 |
| Langue Edition | français |
| Sujets | Microtechniques -- congrès |
| Mesure -- Instruments -- Congrès | |
| Mesures physiques -- instruments -- congrès | |
| Promotions |
| Nombre de réservation(s) actuelle(s) : 0 |
| Site | Numéro | Cote | Section | Etat |
| Bibliotheque | 1012450000010 | 530.7 SYS | Adulte | ISMEP Paris | Disponible |
Notes : Bibliogr. à la fin de chaque article
