Reliability engineering for electronic systems |
Auteurs | Myers, Richard H. (Editeur Intel.) Wong, Kam L. (Editeur Intel.) Gordy, Harold M. (Editeur Intel.) |
Collation | 1 vol. (VII-360 p.) |
Illustration | ill., p. de pl. |
Format | 30 cm |
Langue d'édition | français |
Sujets | Electronique |
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Notes : Bibliogr. en de chapitre. Index
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