Reliability engineering for electronic systems
Auteurs   Myers, Richard H. (Editeur Intel.)
Wong, Kam L. (Editeur Intel.)
Gordy, Harold M. (Editeur Intel.)
Collation   1 vol. (VII-360 p.)
Illustration   ill., p. de pl.
Format   30 cm
Langue d'édition   français
Sujets   Electronique
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Réservation
SiteNuméroCoteSection / LocalisationEtat
Bibliotheque 1012380000012 ME 64Adulte / RéserveDisponible
Notes : Bibliogr. en de chapitre. Index