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Compl. Titre | de l'analyse à l'échelle du contact à la fiabilité des systèmes mécaniques, actes des Journées internationales francophones de tribologie (JIFT 2005), [Tarbes, 11-13 mai 2005] |
Auteurs | Denape, Jean (Editeur Intel.) Paris, Jean-Yves (Editeur Intel.) Stempflé, Philippe (Editeur Intel.) Journées internationales francophones de tribologie (Auteur) Groupe scientifique et technique Tribologie (Editeur Intel.) Laboratoire Génie de production (Editeur Intel.) Association française de mécanique (Auteur) |
Edition | diff. Geodif : [Paris] , 2006 |
Collation | 1 vol. (XI-292 p.) |
Illustration | ill., couv. ill. en coul. |
Format | 24 cm |
ISBN | 978-2-88074-671-1 |
Prix | 66,65 EUR |
Langue d'édition | français, anglais |
Nombre de réservation(s) actuelle(s) : 0 | |
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Notes : Textes des communications en français ou en anglais
Notes bibliogr. Index. Résumés en français et en anglais
Notes bibliogr. Index. Résumés en français et en anglais
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